Name: [B2-01-010668] Microscopio de fuerza atómica capacidad ±6,5 mm
Brand: Belltronic
SKU: B2-01-010668

Descripción general

Introduccion

La Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) es una técnica de imagen de alta resolución que se utiliza para analizar las características de superficies a escala nanométrica. La AFM se utiliza ampliamente en ciencia de materiales, biología, física y nanotecnología para el estudio de superficies y películas delgadas, lo que permite a los investigadores obtener mapas topográficos con precisión atómica.

Caracteristicas

2. El dispositivo de posicionamiento de sonda y láser de precisión hace que el cambio de sonda y el ajuste del punto sean simples y convenientes.
3. El acercamiento automático de la muestra a la sonda proporciona una forma eficiente de evitar el choque del voladizo.
4. La aproximación vertical de la sonda de muestra permite lograr un posicionamiento preciso del área de interés.
5. El área de escaneo de muestra de interés se puede seleccionar libremente con una mesa XY de amplio rango y alta precisión.
6. El sistema CCD de vista superior garantiza la observación y el posicionamiento en tiempo real de la sonda en la región de muestra seleccionada.
7. El diseño modular del sistema de control electrónico facilita el mantenimiento y las mejoras continuas.
8. El modelo compacto 2000 se puede transportar fácilmente dentro de un equipaje de aluminio.
9. La caja hermética del modelo 1000 proporciona un ambiente controlado.

Guia de compra

Equipo de laboratorio: la compra se decide principalmente por modos de trabajo: modo de contacto y modo de lapeado modos opcionales: fase, fricción (lfm), magnético (mfm), electrostático (efm) y tamaño de la muestra: diámetro exterior ≤ 90 mm, altura ≤ 20 mm.

Usos recomendados

Adecuado cuando la especificacion requerida es modos de trabajo: modo de contacto y modo de lapeado modos opcionales: fase, fricción (lfm), magnético (mfm), electrostático (efm).

Adecuado cuando la especificacion requerida es tamaño de la muestra: diámetro exterior ≤ 90 mm, altura ≤ 20 mm.

Adecuado cuando la especificacion requerida es escáneres disponibles: 10*10μm, 20*20μm, 50*50μm, 100*100μm.

Criterios de compatibilidad

Verifique modos de trabajo: modo de contacto y modo de lapeado modos opcionales: fase, fricción (lfm), magnético (mfm), electrostático (efm) antes de confirmar la compra.

Verifique tamaño de la muestra: diámetro exterior ≤ 90 mm, altura ≤ 20 mm antes de confirmar la compra.

Verifique escáneres disponibles: 10*10μm, 20*20μm, 50*50μm, 100*100μm antes de confirmar la compra.

Como validar si sirve

Compare esos valores con el requerimiento tecnico antes de cotizar.

Recomendacion de compra

Elija este producto si modos de trabajo: modo de contacto y modo de lapeado modos opcionales: fase, fricción (lfm), magnético (mfm), electrostático (efm) y tamaño de la muestra: diámetro exterior ≤ 90 mm, altura ≤ 20 mm coinciden con el requerimiento tecnico.

Especificación	pack 5505501150 mm
Modos de trabajo	Modo de contacto y modo de lapeado Modos opcionales: Fase, Fricción (LFM), Magnético (MFM), Electrostático (EFM)
Tamaño de la muestra	Diámetro exterior ≤ 90 mm, altura ≤ 20 mm
Escáneres disponibles	1010μm, 2020μm, 5050μm, 100100μm
Resolución de escaneo	0,2 nm en dirección XY, 0,05 nm en dirección Z
Rango de movimiento de la muestra	±6,5 mm
Ancho de pulso del motor paso a paso	10±2 ms
Puntos de muestreo de imágenes	512*512
Aumento óptico 4X	Resolución óptica 2,5 μm
Frecuencia de escaneo 0,6 Hz ~ 4,34 Hz	Ángulo de escaneo 0°~360°
Control de escaneo	D/A de 18 bits en dirección XY, D/A de 16 bits en dirección Z
Muestreo de datos	Muestreo síncrono multicanal A/D de 14 bits y doble A/D de 16 bits
Comentario	Retroalimentación digital DSP
Frecuencia de muestreo de retroalimentación	64 kHz
Interfaz de computadora	USB 2.0
Sistema operativo	Windows XP/7/8/10
Suministro de energía	CA 220 V, 50/60 Hz; 110 V, 50/60 Hz (opcional)
Tamaño del paquete	5505501150 mm
Peso bruto	65 kilos

Microscopio de fuerza atómica capacidad ±6,5 mm