Microscopio de fuerza atomica

La microscopía de fuerza atómica (AFM) es una técnica de imagen de alta resolución para analizar características de superficie a escala nanométrica. Se usa en ciencia de materiales, biología, física y nanotecnología para estudiar superficies y películas delgadas, y permite obtener mapas topográficos a escala atómica.

Características

1. La sonda de barrido y la platina de muestra integradas aumentan la resistencia a interferencias del sistema de suspensión por resortes.
2. Dispositivo láser y de posicionamiento de la sonda para el cambio de sonda y el ajuste del punto láser.
3. La aproximación automática de la muestra a la sonda evita choques del cantiléver.
4. La aproximación vertical de la sonda a la muestra permite posicionarla sobre la zona de interés.
5. La zona de barrido de la muestra se selecciona libremente con una mesa XY de amplio recorrido.
6. El sistema CCD de vista cenital permite observar y posicionar en tiempo real la sonda sobre la región de muestra seleccionada.
7. El sistema de control electrónico tiene diseño modular para mantenimiento y mejoras continuas.
8. El modelo compacto de la familia, distinto de este equipo, se puede transportar dentro de una maleta de aluminio.
9. Este equipo tiene caja hermética, que ofrece un entorno controlado.