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Espectrofotometro de absorcion atomica llama/GFAA 185-900 nm
La versión de sistema de llama es un espectrofotómetro de absorción atómica de llama dedicado; las versiones de sistema integrado de llama y GFAA combinan las tecnologías de atomización por llama y por horno de grafito. Estos instrumentos se utilizan en monitoreo ambiental, ensayos de inocuidad alimentaria y análisis metalúrgico para la determinación de elementos traza y mayoritarios.
- Sistema óptico de reflexión total para la relación señal-ruido del instrumento.
- Ocho posiciones de lámpara con diseño de rotación de 360°.
- Software de estación de trabajo bajo el sistema MS Windows, de operación automática y completa.
Descripción general
La versión de sistema de llama es un espectrofotómetro de absorción atómica de llama dedicado; las versiones de sistema integrado de llama y GFAA combinan las tecnologías de atomización por llama y por horno de grafito. Estos instrumentos se utilizan en monitoreo ambiental, ensayos de inocuidad alimentaria y análisis metalúrgico para la determinación de elementos traza y mayoritarios.
Características
- Sistema óptico de reflexión total para la relación señal-ruido del instrumento.
- Ocho posiciones de lámpara con diseño de rotación de 360°.
- Software de estación de trabajo bajo el sistema MS Windows, de operación automática y completa.
- Funciones QA/QC: en cada ensayo se entregan la desviación estándar (SD) y la desviación estándar relativa (RSD) de la absorbancia, junto con la SD y la RSD de la concentración calculada; la curva de trabajo de las muestras patrón verifica automáticamente el coeficiente de correlación.
- Medición de información completa: cada medición guarda los resultados de distintos métodos de procesamiento de datos (promedio, altura de pico, área de pico y resultados estadísticos) para el análisis del usuario.
- Base de datos de un clic que completa rápidamente ajustes como longitud de onda, ancho de banda espectral, corriente de la lámpara, alto voltaje negativo y balance de energía.
- Método de calentamiento del horno de grafito: calentamiento longitudinal del horno de grafito (mantiene uniforme la temperatura de la fase gaseosa dentro del tubo de grafito, permite que la muestra alcance la temperatura de atomización de forma simultánea e instantánea, mejora la eficiencia de atomización y la exactitud de la medición, reduce los requisitos de desempeño del cuerpo del horno y prolonga su vida útil) (sólo en las versiones de sistema integrado de llama y GFAA).
| Especificación |
±0.15nm - Sistema de llama
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±0.2nm - Sistema integrado de llama y GFAA
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±0.15nm - Sistema integrado de llama y GFAA
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|---|---|---|---|
| Tipo de instrumento | Sistema de llama | Sistema integrado de llama y GFAA | Sistema integrado de llama y GFAA |
| Sistema óptico · Tipo de haz | Doble haz | ||
| Sistema óptico · Red de difracción | Surcos 1800líneas/mm, longitud de onda de blaze 250nm | ||
| Sistema óptico · Rango de longitud de onda | 185~900nm | ||
| Sistema óptico · Ancho de banda espectral | 0.1, 0.2, 0.4, 0.7, 1.4, 2.0nm | ||
| Sistema óptico · Exactitud de longitud de onda | ±0.15nm | ±0.2nm | ±0.15nm |
| Sistema óptico · Repetibilidad de longitud de onda | ≤0.05nm | ≤0.1nm | ≤0.05nm |
| Sistema óptico · Desviación del ancho de banda espectral | ±0.02nm | ||
| Sistema óptico · Portalámparas | 8(Admite precalentamiento simultáneo de 1~4 lámparas) | ||
| Desempeño fotométrico · Modos de lectura | Transmitancia, absorbancia, concentración | ||
| Desempeño fotométrico · Rango fotométrico | 0~125%T, -0.1~3.00Abs | ||
| Desempeño fotométrico · Estabilidad de línea base | Deriva ±0.002Abs(Estable 30min) Deriva ±0.004Abs(Dinámica 15min) | Deriva ±0.003Abs(Estable 30min) Deriva ±0.005Abs(Dinámica 15min) | Deriva ±0.002Abs(Estable 30min) Deriva ±0.004Abs(Dinámica 15min) |
| Desempeño fotométrico · Capacidad de corrección de fondo | Lámpara de deuterio: ≥40 veces(a 1Abs) Autoinversión: ≥80 veces(a 1Abs) | Lámpara de deuterio: ≥40 veces(a 1Abs) | Lámpara de deuterio: ≥40 veces(a 1Abs) Autoinversión: ≥80 veces(a 1Abs) |
| Análisis por llama · Concentración característica | Método de llama para Cu: ≤0.02μg/mL | Método de llama para Cu: ≤0.035μg/mL | Método de llama para Cu: ≤0.02μg/mL |
| Análisis por llama · Límite de detección | Método de llama para Cu: ≤0.004μg/mL | Método de llama para Cu: ≤0.006μg/mL | Método de llama para Cu: ≤0.004μg/mL |
| Análisis por llama · Repetibilidad | Método de llama para Cu: ≤0.5% | Método de llama para Cu: ≤0.6% | Método de llama para Cu: ≤0.5% |
| Análisis por llama · Quemador | Cabezal de quemador de titanio | ||
| Análisis por llama · Nebulizador | Nebulizador de vidrio de alta eficiencia | ||
| Análisis por llama · Funciones de seguridad | Protección contra presión anormal del gas de llama y del gas auxiliar | ||
| Análisis por horno de grafito · Masa característica | — | Cd ≤0.6pg Cu ≤20pg | Cd ≤0.5pg Cu ≤20pg |
| Análisis por horno de grafito · Límite de detección | — | Cd ≤1.0pg Cu ≤25pg | Cd ≤0.8pg Cu ≤25pg |
| Análisis por horno de grafito · Repetibilidad(Cd) | — | ≤3% | ≤2.5% |
| Análisis por horno de grafito · Rango de temperatura del horno de grafito | — | Temperatura ambiente~3000°C | Temperatura ambiente~3000°C |
| Análisis por horno de grafito · Velocidad de calentamiento | — | Máximo 2000°C/s | Máximo 2000°C/s |
| Análisis por horno de grafito · Funciones de seguridad | — | Alarmas de flujo de agua de refrigeración, presión del gas protector, temperatura del cuerpo del horno, temperatura de la fuente de alimentación e instalación del tubo de grafito | Alarmas de flujo de agua de refrigeración, presión del gas protector, temperatura del cuerpo del horno, temperatura de la fuente de alimentación e instalación del tubo de grafito |
| Procesamiento de datos · Método de cálculo de concentración | Método de curva estándar(6 métodos de ajuste lineales y no lineales), método de adición estándar, método de interpolación | ||
| Procesamiento de datos · Número de mediciones repetidas | 1~30 veces; calcula y entrega el promedio, la desviación estándar y la desviación estándar relativa de la absorbancia y de la concentración | ||
| Accesorio estándar | Lámpara de elemento(Cu*1), compresor de aire libre de aceite, software, memoria USB | Lámpara de elemento(Cu*1, Cd*1), compresor de aire libre de aceite, software, memoria USB, tubo de grafito*5, pipeta*1(5~50μl), punta de pipeta*1000(200μl) | Lámpara de elemento(Cu*1, Cd*1), compresor de aire libre de aceite, software, memoria USB, tubo de grafito*5, pipeta*1(5~50μl), punta de pipeta*1000(200μl) |
| Accesorio opcional | Llama de alta temperatura enriquecida con oxígeno, generador de hidruros, software de pista de auditoría, automuestreador de llama | Llama de alta temperatura enriquecida con oxígeno, generador de hidruros, software de pista de auditoría, enfriador recirculante, automuestreador de horno de grafito, automuestreador de llama | Llama de alta temperatura enriquecida con oxígeno, generador de hidruros, software de pista de auditoría, enfriador recirculante, automuestreador de horno de grafito, automuestreador de llama |
| Alimentación eléctrica | AC 220V, 50/60Hz | ||
| Dimensiones externas (An×Pr×Al) | 830*650*560mm | ||
| Dimensiones de embalaje (An×Pr×Al) | 1010*780*830mm | ||
| Peso neto | 85kg | 120kg | 125kg |
| Peso bruto | 135kg | 183kg | 183kg |
| Variante | Tipo de instrumento | Sistema óptico · Tipo de haz | Sistema óptico · Red de difracción | Sistema óptico · Rango de longitud de onda | Sistema óptico · Ancho de banda espectral | Sistema óptico · Exactitud de longitud de onda | Sistema óptico · Repetibilidad de longitud de onda | Sistema óptico · Desviación del ancho de banda espectral | Sistema óptico · Portalámparas | Desempeño fotométrico · Modos de lectura | Desempeño fotométrico · Rango fotométrico | Desempeño fotométrico · Estabilidad de línea base | Desempeño fotométrico · Capacidad de corrección de fondo | Análisis por llama · Concentración característica | Análisis por llama · Límite de detección | Análisis por llama · Repetibilidad | Análisis por llama · Quemador | Análisis por llama · Nebulizador | Análisis por llama · Funciones de seguridad | Análisis por horno de grafito · Masa característica | Análisis por horno de grafito · Límite de detección | Análisis por horno de grafito · Repetibilidad(Cd) | Análisis por horno de grafito · Rango de temperatura del horno de grafito | Análisis por horno de grafito · Velocidad de calentamiento | Análisis por horno de grafito · Funciones de seguridad | Procesamiento de datos · Método de cálculo de concentración | Procesamiento de datos · Número de mediciones repetidas | Accesorio estándar | Accesorio opcional | Alimentación eléctrica | Dimensiones externas (An×Pr×Al) | Dimensiones de embalaje (An×Pr×Al) | Peso neto | Peso bruto |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
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±0.15nm - Sistema de llama
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Sistema de llama | Doble haz | Surcos 1800líneas/mm, longitud de onda de blaze 250nm | 185~900nm | 0.1, 0.2, 0.4, 0.7, 1.4, 2.0nm | ±0.15nm | ≤0.05nm | ±0.02nm | 8(Admite precalentamiento simultáneo de 1~4 lámparas) | Transmitancia, absorbancia, concentración | 0~125%T, -0.1~3.00Abs | Deriva ±0.002Abs(Estable 30min) Deriva ±0.004Abs(Dinámica 15min) | Lámpara de deuterio: ≥40 veces(a 1Abs) Autoinversión: ≥80 veces(a 1Abs) | Método de llama para Cu: ≤0.02μg/mL | Método de llama para Cu: ≤0.004μg/mL | Método de llama para Cu: ≤0.5% | Cabezal de quemador de titanio | Nebulizador de vidrio de alta eficiencia | Protección contra presión anormal del gas de llama y del gas auxiliar | — | — | — | — | — | — | Método de curva estándar(6 métodos de ajuste lineales y no lineales), método de adición estándar, método de interpolación | 1~30 veces; calcula y entrega el promedio, la desviación estándar y la desviación estándar relativa de la absorbancia y de la concentración | Lámpara de elemento(Cu*1), compresor de aire libre de aceite, software, memoria USB | Llama de alta temperatura enriquecida con oxígeno, generador de hidruros, software de pista de auditoría, automuestreador de llama | AC 220V, 50/60Hz | 830*650*560mm | 1010*780*830mm | 85kg | 135kg |
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±0.2nm - Sistema integrado de llama y GFAA
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Sistema integrado de llama y GFAA | Doble haz | Surcos 1800líneas/mm, longitud de onda de blaze 250nm | 185~900nm | 0.1, 0.2, 0.4, 0.7, 1.4, 2.0nm | ±0.2nm | ≤0.1nm | ±0.02nm | 8(Admite precalentamiento simultáneo de 1~4 lámparas) | Transmitancia, absorbancia, concentración | 0~125%T, -0.1~3.00Abs | Deriva ±0.003Abs(Estable 30min) Deriva ±0.005Abs(Dinámica 15min) | Lámpara de deuterio: ≥40 veces(a 1Abs) | Método de llama para Cu: ≤0.035μg/mL | Método de llama para Cu: ≤0.006μg/mL | Método de llama para Cu: ≤0.6% | Cabezal de quemador de titanio | Nebulizador de vidrio de alta eficiencia | Protección contra presión anormal del gas de llama y del gas auxiliar | Cd ≤0.6pg Cu ≤20pg | Cd ≤1.0pg Cu ≤25pg | ≤3% | Temperatura ambiente~3000°C | Máximo 2000°C/s | Alarmas de flujo de agua de refrigeración, presión del gas protector, temperatura del cuerpo del horno, temperatura de la fuente de alimentación e instalación del tubo de grafito | Método de curva estándar(6 métodos de ajuste lineales y no lineales), método de adición estándar, método de interpolación | 1~30 veces; calcula y entrega el promedio, la desviación estándar y la desviación estándar relativa de la absorbancia y de la concentración | Lámpara de elemento(Cu*1, Cd*1), compresor de aire libre de aceite, software, memoria USB, tubo de grafito*5, pipeta*1(5~50μl), punta de pipeta*1000(200μl) | Llama de alta temperatura enriquecida con oxígeno, generador de hidruros, software de pista de auditoría, enfriador recirculante, automuestreador de horno de grafito, automuestreador de llama | AC 220V, 50/60Hz | 830*650*560mm | 1010*780*830mm | 120kg | 183kg |
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±0.15nm - Sistema integrado de llama y GFAA
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Sistema integrado de llama y GFAA | Doble haz | Surcos 1800líneas/mm, longitud de onda de blaze 250nm | 185~900nm | 0.1, 0.2, 0.4, 0.7, 1.4, 2.0nm | ±0.15nm | ≤0.05nm | ±0.02nm | 8(Admite precalentamiento simultáneo de 1~4 lámparas) | Transmitancia, absorbancia, concentración | 0~125%T, -0.1~3.00Abs | Deriva ±0.002Abs(Estable 30min) Deriva ±0.004Abs(Dinámica 15min) | Lámpara de deuterio: ≥40 veces(a 1Abs) Autoinversión: ≥80 veces(a 1Abs) | Método de llama para Cu: ≤0.02μg/mL | Método de llama para Cu: ≤0.004μg/mL | Método de llama para Cu: ≤0.5% | Cabezal de quemador de titanio | Nebulizador de vidrio de alta eficiencia | Protección contra presión anormal del gas de llama y del gas auxiliar | Cd ≤0.5pg Cu ≤20pg | Cd ≤0.8pg Cu ≤25pg | ≤2.5% | Temperatura ambiente~3000°C | Máximo 2000°C/s | Alarmas de flujo de agua de refrigeración, presión del gas protector, temperatura del cuerpo del horno, temperatura de la fuente de alimentación e instalación del tubo de grafito | Método de curva estándar(6 métodos de ajuste lineales y no lineales), método de adición estándar, método de interpolación | 1~30 veces; calcula y entrega el promedio, la desviación estándar y la desviación estándar relativa de la absorbancia y de la concentración | Lámpara de elemento(Cu*1, Cd*1), compresor de aire libre de aceite, software, memoria USB, tubo de grafito*5, pipeta*1(5~50μl), punta de pipeta*1000(200μl) | Llama de alta temperatura enriquecida con oxígeno, generador de hidruros, software de pista de auditoría, enfriador recirculante, automuestreador de horno de grafito, automuestreador de llama | AC 220V, 50/60Hz | 830*650*560mm | 1010*780*830mm | 125kg | 183kg |
Confirme el rango espectral
Compare las longitudes de onda de los elementos que debe medir con el rango de longitud de onda y con los anchos de banda espectrales disponibles.
- Análisis por horno de grafito · Repetibilidad(Cd): No aplica
- Sistema óptico · Rango de longitud de onda: 185~900nm
- Sistema óptico · Ancho de banda espectral: 0.1, 0.2, 0.4, 0.7, 1.4, 2.0nm
- Análisis por horno de grafito · Repetibilidad(Cd): ≤3%
- Sistema óptico · Rango de longitud de onda: 185~900nm
- Sistema óptico · Ancho de banda espectral: 0.1, 0.2, 0.4, 0.7, 1.4, 2.0nm
- Análisis por horno de grafito · Repetibilidad(Cd): ≤2.5%
- Sistema óptico · Rango de longitud de onda: 185~900nm
- Sistema óptico · Ancho de banda espectral: 0.1, 0.2, 0.4, 0.7, 1.4, 2.0nm
- Análisis por horno de grafito · Repetibilidad(Cd): No aplica
Revise el nivel de detección requerido
Compare la concentración que espera analizar con el límite de detección y con la repetibilidad del método de llama de cada versión.
- Análisis por horno de grafito · Repetibilidad(Cd): No aplica
- Análisis por llama · Límite de detección: Método de llama para Cu: ≤0.004μg/mL
- Análisis por llama · Repetibilidad: Método de llama para Cu: ≤0.5%
- Análisis por horno de grafito · Repetibilidad(Cd): ≤3%
- Análisis por llama · Límite de detección: Método de llama para Cu: ≤0.006μg/mL
- Análisis por llama · Repetibilidad: Método de llama para Cu: ≤0.6%
- Análisis por horno de grafito · Repetibilidad(Cd): ≤2.5%
- Análisis por llama · Límite de detección: Método de llama para Cu: ≤0.004μg/mL
- Análisis por llama · Repetibilidad: Método de llama para Cu: ≤0.5%
- Análisis por horno de grafito · Repetibilidad(Cd): No aplica
Prevea la instalación
Confirme que la alimentación eléctrica sea compatible y que la mesa de trabajo admita las dimensiones externas del equipo.
- Análisis por horno de grafito · Repetibilidad(Cd): No aplica
- Alimentación eléctrica: AC 220V, 50/60Hz
- Dimensiones externas (An×Pr×Al): 830*650*560mm
- Análisis por horno de grafito · Repetibilidad(Cd): ≤3%
- Alimentación eléctrica: AC 220V, 50/60Hz
- Dimensiones externas (An×Pr×Al): 830*650*560mm
- Análisis por horno de grafito · Repetibilidad(Cd): ≤2.5%
- Alimentación eléctrica: AC 220V, 50/60Hz
- Dimensiones externas (An×Pr×Al): 830*650*560mm
- Análisis por horno de grafito · Repetibilidad(Cd): No aplica