Espectrofotómetro UV-Vis NIR para escaneo continuo en las regiones ultravioleta, visible e infrarroja cercana.
Variables de selección:
La ficha lo vincula con pruebas de eficiencia energética en edificios, inspección de calidad en ingeniería de construcción, pruebas de vidrio de seguridad para automóviles, investigación en ciencia de materiales e investigación científica en instituciones de educación superior. Revisar accesorios requeridos según el tipo de medición.
- Rango de longitud de onda: 190 a 3200 nm.
- Sistema óptico: doble viga.
- Modos de trabajo: transmitancia, absorbancia, reflectividad y energía.
- Ancho de banda espectral: 0,2 a 5 nm en UV/Vis y 1 a 20 nm en NIR.
- Precisión de transmisión: ±0,3 %T.
- Rango fotométrico: 0 a 3A.
- Accesorios opcionales: esfera integradora, transmisión y reflexión.
Variables de selección: - Rango de longitud de onda: 190 a 3200 nm. - Sistema óptico: doble viga. - Modos de trabajo: transmitancia, absorbancia, reflectividad y energía. - Ancho de banda espectral: 0,2 a 5 nm en UV/Vis y 1 a 20 nm en NIR. - Precisión de transmisión: ±0,3%T. - Rango fotométrico: 0 a 3A. - Accesorios opcionales: esfera integradora, transmisión y reflexión.
La ficha lo vincula con pruebas de eficiencia energética en edificios, inspección de calidad en ingeniería de construcción, pruebas de vidrio de seguridad para automóviles, investigación en ciencia de materiales e investigación científica en instituciones de educación superior. Revisar accesorios requeridos según el tipo de medición.
La ficha lo vincula con pruebas de eficiencia energética en edificios, inspección de calidad en ingeniería de construcción, pruebas de vidrio de seguridad para automóviles, investigación en ciencia de materiales e investigación científica en instituciones de educación superior. Revisar accesorios requeridos según el tipo de medición.
La ficha lo vincula con pruebas de eficiencia energética en edificios, inspección de calidad en ingeniería de construcción, pruebas de vidrio de seguridad para automóviles, investigación en ciencia de materiales e investigación científica en instituciones de educación superior. Revisar accesorios requeridos según el tipo de medición.