Microscopio de fuerza atómica de nivel de investigación

Microscopio de fuerza atómica de nivel de investigación

Características

1. Nivel básico, diseño con controlador y cuerpo principal separados, con modo de contacto, modo de contacto intermitente
2. Modo de contacto, modo de contacto intermitente, rango de barrido XY 50x50um, Z 5um, resolución de barrido XY 0.2nm, Z 0.05nm
3. Tamaño de muestra diám.<90mm, H<20mm, movimiento de platina 25x25mm, objetivo óptico APO 10x, resolución 1um
4. Velocidad de barrido 0.6~30Hz, ángulo de barrido 0-360°, salida USB3.0 para Win7/8/10/11
5. Modo de trabajo opcional: modo de fricción, modo de fase, modo magnético, modo electrostático
6. ◆ El cabezal de detección láser y la platina de barrido de muestra están integrados, la estructura es muy estable y la antiinterferencia es fuerte ◆ Dispositivo de posicionamiento de sonda de precisión, el ajuste de alineación del punto láser es muy simple ◆ La muestra, con accionamiento de un solo eje, se aproxima automáticamente a la sonda en vertical, de modo que la punta de la aguja queda perpendicular al barrido de la muestra ◆ El método de avance de la aguja, con detección automática por cerámica piezoeléctrica presurizada controlada por motor, protege la sonda y la muestra ◆ Se pueden elegir libremente escáneres de cerámica piezoeléctrica de gran precisión y amplio rango ◆ Posicionamiento óptico automático con objetivo de alto aumento, sin necesidad de enfocar, observación y posicionamiento en tiempo real del área de barrido de la sonda y la muestra ◆ Método antivibración por suspensión de resortes, simple y práctico, con buen efecto antivibración ◆ Caja insonorizada con blindaje metálico, sensor de temperatura y humedad de gran precisión integrado, monitoreo en tiempo real del ambiente de trabajo ◆ Editor de usuario integrado para corrección no lineal del escáner, exactitud de caracterización y medición nanométrica mayor que 98%
7. Especificación: A | B | C | D
8. Modo de trabajo: modo de contacto intermitente; 【opcional】 modo de contacto, modo de fricción, modo de fase, modo magnético, modo electrostático | modo de contacto, modo de contacto intermitente; 【opcional】 modo de fricción, modo de fase, modo magnético, modo electrostático | modo de contacto, modo de contacto intermitente; 【opcional】 modo de fricción, modo de fase, modo magnético, modo electrostático | modo de contacto, modo de contacto intermitente; 【opcional】 modo de fricción, modo de fase, modo magnético, modo electrostático
9. Curva de espectro de corriente: curva RMS-Z; 【opcional】 curva de fuerza F-Z | curva RMS-Z, curva de fuerza F-Z | curva RMS-Z, curva de fuerza F-Z | curva RMS-Z, curva de fuerza F-Z
10. Rango de barrido XY: 20×20um | 20×20um | 50×50um | 50×50um
11. Resolución de barrido XY: 0.2nm | 0.2nm | 0.2nm | 0.2nm
12. Rango de barrido Z: 2.5um | 2.5um | 5um | 5um
13. Resolución de barrido Y: 0.05nm | 0.05nm | 0.05nm | 0.05nm
14. Velocidad de barrido: 0.6Hz~30Hz | 0.6Hz~30Hz | 0.6Hz~30Hz | 0.6Hz~30Hz
15. Ángulo de barrido: 0~360° | 0~360° | 0~360° | 0~360°
16. Tamaño de muestra: Φ≤90mm H≤20mm | Φ≤90mm H≤20mm | Φ≤90mm H≤20mm | Φ≤90mm H≤20mm
17. Movimiento de platina XY: 15×15mm | 15×15mm | 25×25um | 25×25um
18. Diseño amortiguador de golpes: suspensión por resortes | suspensión por resortes, caja de blindaje metálico | suspensión por resortes, caja de blindaje metálico | -
19. Sistema óptico: objetivo 4x, resolución 2.5um | objetivo 4x, resolución 2.5um | objetivo 4x, resolución 2.5um | ocular 10x, Infinito Plan LWD APO 5x10x20x50x, cámara digital 5.0M, monitor LCD 10", con medición, iluminación Kohler LED, enfoque coaxial grueso y fino
20. Salida: USB2.0/3.0 | USB2.0/3.0 | USB2.0/3.0 | USB2.0/3.0
21. Software: Win XP/7/8/10 | Win XP/7/8/10 | Win XP/7/8/10 | Win XP/7/8/10
22. — | Resolución | Condición de trabajo | Temperatura de trabajo | Daño a la muestra | Profundidad de inspección
23. SPM | nivel atómico 0.1nm | normal, líquido, vacío | temperatura ambiente o baja | ninguno | 1~2 niveles atómicos
24. TEM | punto 0.3~0.5nm, red 0.1~0.2nm | alto vacío | temperatura ambiente | pequeño | usualmente <100nm
25. SEM | 6-10nm | alto vacío | temperatura ambiente | pequeño | 10mm @10x, 1um @10000x
26. FIM | nivel atómico 0.1nm | ultra alto vacío | 30~80K | daño | espesor atómico
27. Microscopio: microscopio óptico | microscopio electrónico | microscopio de sonda de barrido
28. Resolución máxima (um): 0.18 | 0.00011 | 0.00008
29. Observación: inmersión en aceite 1500x | imagen de átomos de carbono del diamante | imagen de átomos de carbono de grafito de alto orden
30. Interacción sonda-muestra | Señal de medición | Información
31. Fuerza | fuerza electrostática | forma
32. Corriente de túnel | corriente | forma, conductividad
33. Fuerza magnética | fase | estructura magnética
34. Fuerza electrostática | fase | distribución de carga